[发明专利]灰调掩模的制造方法及灰调掩模有效

专利信息
申请号: 200610008320.7 申请日: 2006-02-17
公开(公告)号: CN1821867A 公开(公告)日: 2006-08-23
发明(设计)人: 佐野道明 申请(专利权)人: HOYA株式会社
主分类号: G03F1/00 分类号: G03F1/00;G03F7/20;G03F7/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 黄纶伟
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 在形成了具有遮光部、透光部以及半透光部的装置图形;以及用于位置对齐的标记图形的灰调掩模的制造方法中,具有:准备在透明基板上至少形成了遮光膜的掩模版的步骤;遮光部图形形成步骤,其中包括下述步骤:形成第1抗蚀图形,将该第1抗蚀图形作为掩模,蚀刻遮光膜;在形成了遮光部图形的透明基板上形成半透光膜的步骤;以及半透光部图形形成步骤,其中包括下述步骤:形成第2抗蚀图形,将该第2抗蚀图形作为掩模,蚀刻半透光膜,在遮光部图形形成步骤中,在形成遮光部图形的同时,形成具有遮光部和透光部的所期望的标记图形,在半透光部图形形成步骤中的第2描绘图形的描绘之前,具有使得在上述标记图形中的透光部不存在半透光膜的步骤。
搜索关键词: 灰调掩模 制造 方法
【主权项】:
1.一种灰调掩模的制造方法,该灰调掩模形成了具有遮光部、透光部以及半透光部的装置图形,以及用于位置对齐的标记图形,该灰调掩模的制造方法的特征在于,具有:准备在透明基板上至少形成了遮光膜的掩模版的步骤;遮光部图形形成步骤,其中包括下述步骤:在用于形成遮光部图形的第1抗蚀膜上描绘第1描绘图形,进行显影,形成第1抗蚀图形,将该第1抗蚀图形作为掩模,对上述遮光膜进行蚀刻;在形成了上述遮光部图形的透明基板上形成半透光膜的步骤;以及半透光部图形形成步骤,其中包括下述步骤:为了形成半透光部图形,在上述半透光膜上所形成的第2抗蚀膜上描绘第2描绘图形,进行显影,形成第2抗蚀图形,将该第2抗蚀图形作为掩模,对上述半透光膜进行蚀刻,其中,在上述遮光部图形形成步骤中,在形成遮光部图形的同时,形成具有遮光部和透光部的所期望的标记图形,在上述半透光部图形形成步骤中的第2描绘图形的描绘之前,具有使得在上述标记图形的透光部中不存在半透光膜的步骤。
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