[发明专利]集成电路测试卡无效

专利信息
申请号: 200610008526.X 申请日: 2006-02-16
公开(公告)号: CN101021549A 公开(公告)日: 2007-08-22
发明(设计)人: 范宏光 申请(专利权)人: 旺矽科技股份有限公司
主分类号: G01R1/073 分类号: G01R1/073;G01R1/02;G01R31/28;H01L21/66
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 周国城
地址: 台湾省*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种集成电路测试卡,包含:一电路板,多数个接触焊点;一探针组件,一电讯转接板及多数个探针,该电讯转接板界定出电气导通的一第一电讯面及一与之相背的第二电讯面,各探针电气导通于第一电讯面上,第二电讯面与接触焊点电气导通;至少一转向固定组件,一调适单元及一作用单元,调适单元具有一顶撑件及一固接件,顶撑件以一端连接于第二电讯面,另一端则位在电路板上,固接件夹固于位在电路板上的顶撑件,作用单元具有一第一应变块及一与第一应变块相贴接的第二应变块,当电讯转接板与基板之间有平面不平行的歪斜情形时,由第一应变块与第二应变块发生相互的错移,使电讯转接板被稳固地撑在预定的水平位置,在承受外力时亦不会改变位置或变形。
搜索关键词: 集成电路 测试
【主权项】:
1.一种集成电路测试卡,其特征在于,包含有:一电路板,具有多数个的接触焊点;一探针组件,具有一电讯转接板及多数个的探针,该电讯转接板可界定出电气导通的一第一电讯面及一与之相背的第二电讯面,该各探针是电气导通于该第一电讯面上,该第二电讯面是与该接触焊点电气导通;至少一转向固定组件,具有一调适单元、一作用单元及定位环,该调适单元包含有一顶撑件及一固接件;该顶撑件是以其一端撑抵且结合于该电讯转接板上。该固接件形成有一穿置孔供该顶撑件穿入,同时与将顶撑件夹持固定;该作用单元具有可因应两歪斜平面的角度差异而改变形态,使两歪斜平面可经由此组件而妥善承靠,是穿套于顶撑件外,介于固接件与基板之间,使固接件可确实承靠于基板上;该定位环是将固接件压迫固定于基板上,使可通过由该定位环使顶撑件维持固定的方位及位置于基板上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于旺矽科技股份有限公司,未经旺矽科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200610008526.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top