[发明专利]测试光学读取装置的特性的方法无效
| 申请号： | 200610008581.9 | 申请日： | 2006-02-17 |
| 公开（公告）号： | CN101025937A | 公开（公告）日： | 2007-08-29 |
| 发明（设计）人： | 萧麟;陈以修 | 申请（专利权）人： | 明基电通股份有限公司 |
| 主分类号： | G11B7/00 | 分类号： | G11B7/00;G11B7/22 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 王志森;黄小临 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种测试光学读取装置特性的系统，包括一反射元件以及一光学读取装置(OPU)。反射元件用以模拟光盘。光学读取装置产生一光束至该反射元件。光学读取装置依据一周期性变动的驱动信号的电平相对于反射元件移动，其中当驱动信号到达至少一特定电平时，光束聚焦于反射元件的表面，而光学读取装置并同时产生对应的多个脉冲。其中，光学读取装置具有多个特性，例如垂直偏移量及灵敏度，这些特性依据介于邻近的脉冲的时段而求得。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 光学 读取 装置 特性 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测试光学读取装置的特性的方法，用以测试一光学读取装置，该方法包括：利用该光学读取装置发射一光束至一反射元件；利用周期性变动的一驱动信号以驱动该光学读取装置，使该光学读取装置依据该驱动信号的电平相对于该反射元件移动，其中，当该驱动信号到达至少一特定电平时，该光束聚焦于该反射元件的表面；当该光束聚焦于该反射元件的表面的同时，该光学读取装置产生对应的多个脉冲；以及依据介于邻近的该多个脉冲的时段以测试该光学读取装置的特性。
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