[发明专利]半导体装置及互补型金属绝缘半导体逻辑电路无效
申请号: | 200610008583.8 | 申请日: | 2006-02-17 |
公开(公告)号: | CN1825602A | 公开(公告)日: | 2006-08-30 |
发明(设计)人: | 伊藤稔 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 邵亚丽;李晓舒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明目的在于提供一种半导体装置,包括一个具有以SOI结构绝缘分离的绝缘分离层4的NchMOS晶体管(1)和一个用绝缘膜形成的电容器,减小硅衬底(B)的厚度来减小衬底电容量。NchMOS晶体管(1)具有绝缘分离区域(5a、5b)以使其成为完全耗尽型或近似的部分耗尽型。与NchMOS晶体管(1)的栅极G连接的电极(6)和杂质扩散层(7),通过电容器(2)相连接。源极(S)与电源端子(3a)连接,栅极(G)与内部信号线(S1)连接,漏极(D)与内部信号线(S2)连接。NchMOS晶体管(1)在导通/截止时,通过电容器耦合来控制衬底偏置电压。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 互补 金属 绝缘 逻辑电路 | ||
【主权项】:
1.一种半导体装置,其SOI结构的硅衬底上形成有绝缘分离区域,所述半导体装置包括:被所述绝缘分离区域包围而电绝缘的形成在硅衬底上的,完全耗尽型或近似的部分耗尽型MIS晶体管;用绝缘膜形成的电容器,其中,与所述MIS晶体管的栅极连接的电极,和通过扩散与所述硅衬底相同的杂质而在所述硅衬底内形成的杂质扩散层,通过所述电容器相连接,形成一个所述MIS晶体管的漏极相当于集电极,所述硅衬底相当于基极,源极相当于发射极的BJT(双极性晶体管),若相对源极的栅极电压为VGS,所述MIS晶体管的栅极电容量为CG,所述电容器的电容量为CC,寄生电容量为CP,所述BJT的钳位电压为VC,栅极电位变化前的硅衬底电位为VB(I),那么VB(I)+(CG+CC)*VGS/(CG+CC+CP)>VC成立。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于松下电器产业株式会社,未经松下电器产业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200610008583.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:通体均匀发光光纤及其制备方法
- 下一篇:提高硫化锡半导体薄膜电导率的方法
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的