[发明专利]荧光测定装置有效
| 申请号： | 200610008610.1 | 申请日： | 2006-02-17 |
| 公开（公告）号： | CN1821753A | 公开（公告）日： | 2006-08-23 |
| 发明（设计）人： | 田畑仁平;宫川智 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 王以平 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种荧光测定装置，在保持待测试样的基板41上，形成反射从该基板41的上方照射的激励光e1并可透过由上述试样所发出的荧光f1的电介质多层膜42，并由该电介质多层膜42反射激励光e2，由受光部分44检测出透过的荧光f1。根据本发明，可以消除由基板的自身荧光和来自激励光的受光滤光器的漏光所导致的检测灵敏度低下的问题，并可高灵敏度地对测定材料进行检测。 | ||
| 搜索关键词： | 荧光 测定 装置 | ||
【主权项】：
1.一种荧光测定装置，其特征为，在保持一照射激励光就发出荧光的试样的基板的上表面上形成反射上述激励光并透过上述荧光的波长选择装置，把上述试样配置在形成了该波长选择装置的基板上，从该基板上方向上述试样照射激励光，由在上述基板下方所设置的受光部分测定透过上述波长选择装置的由上述试样发出的荧光。
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