[发明专利]熔接结构无效
| 申请号： | 200610008637.0 | 申请日： | 2006-02-20 |
| 公开（公告）号： | CN101025176A | 公开（公告）日： | 2007-08-29 |
| 发明（设计）人： | 蔡明志;龚转园 | 申请（专利权）人： | 台达电子工业股份有限公司 |
| 主分类号： | F16B11/00 | 分类号： | F16B11/00;B29C65/08 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 陈小雯;李晓舒 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开一种熔接结构，其包括一本体以及一盖体，其中该本体具有多个熔接部，该熔接部设于该本体的一端部表面，该盖体则经由该多个熔接部与该本体紧密相连，该本体与该盖体是以超音波方式熔接。 | ||
| 搜索关键词： | 熔接 结构 | ||
【主权项】：
1.一种熔接结构，包括：一本体，具有多个熔接部；以及一盖体，其经由该多个熔接部与该本体紧密相连。
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