[发明专利]过流检测装置有效
| 申请号： | 200610008683.0 | 申请日： | 2006-02-21 |
| 公开（公告）号： | CN1825761A | 公开（公告）日： | 2006-08-30 |
| 发明（设计）人： | 大岛俊藏 | 申请（专利权）人： | 矢崎总业株式会社 |
| 主分类号： | H03K17/00 | 分类号： | H03K17/00 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 夏凯;钟强 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种过流检测装置，其通过使用半导体开关，检测用于控制负载的导通/断开的负载电路中的过流，该装置包括：驱动电路，其向半导体开关输出驱动信号；基准电压产生电路，其产生基准电压；测量电压产生电路，其产生对应于在半导体开关两端产生的电压的测量电压；第一比较器，其将测量电压与基准电压作比较，当测量电压大于基准电压时，输出过流确定信号；饱和确定电路，其确定在半导体开关的控制电压和施加给半导体开关正极侧的电压之间的差分电压大于预定电压；以及过流信号切换电路，当饱和确定电路确定差分电压大于预定电压时，其执行切换操作以使过流确定信号输出至驱动电路。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 装置 | ||
【主权项】：
1.一种过流检测装置，其通过使用半导体开关，检测在用于控制负载的导通/断开的负载电路中的过流，该装置包括：驱动电路，其向半导体开关输出驱动信号；基准电压产生电路，其产生基准电压；测量电压产生电路，其产生对应于半导体开关两端产生的电压的测量电压；第一比较器，其比较测量的电压和基准电压，并且当测量的电压大于基准电压时，输出过流确定信号；饱和确定电路，其确定在半导体开关的控制电压和施加到半导体开关正极侧的电压之间的差分电压大于预定电压；以及过流信号切换电路，当饱和确定电路确定该差分电压大于预定电压时，其执行切换操作以使过流确定信号输出至驱动电路。
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