[发明专利]可设定值计数器及其测试方法

摘要

一种可设定值计数器的测试方法，应用于一包含n个具有m位元的次级计数器电路的一可设定值计数器，其中该等次级计数器电路是以串联方式连接，该测试方法包括步骤如下：设定该等次级计数器电路的最低k个位元为不同初始值；进入一测试模式，并输入(2^m)个计数时脉以检测该可设定值计数器；设定该等次级计数器电路的m位元；以及进入一计数模式，陆续输入2个计数时脉并逐次检测该可设定值计数器。

主权项

1.一种可设定值计数器的测试方法，应用于一包括n个次级计数器电路之一可设定值计数器，其中该等次级计数器电路系包括n个进位位元逻辑电路、(n-1)个测试信号电路以及m×n个输出计数数据线，并以串联方式连接，该测试方法包括步骤如下：(a)设定该等次级计数器电路的最低k个位元为不同初始值的一组合，并进入一测试模式；(b)输入2m个计数时脉，并逐次判断该等次级计数器电路的个别计数值是否均符合相对应的预期值；(c1)如步骤(b)的比较结果均为符合，则可判定该等次级计数器电路及该等输出计数数据线为正确，设定该等计数器电路的全部位元为1，使其进入一计数模式，续接步骤(d)；(c2)如步骤(b)的任一比较结果不符合，进行一对应的侦错分析并结束；(d)继续输入一个计数时脉，并判断该可设定值计数器的一计数值是否为0；(e1)如步骤(d)的比较结果为0，继续停留在该计数模式，并续接步骤(f)；(e2)如步骤(d)的比较结果非为0，则可判定错误产生于该等进位位元逻辑电路或该等测试信号电路并结束；(f)继续输入一个计数时脉，并判断该可设定值计数器的一计数值是否为1；(g1)如步骤(f)的比较结果为1，则可判定该可设定值计数器为正确；以及(g2)如步骤(f)的比较结果非为1，则可判定错误产生于该等测试信号电路。