[发明专利]半导体集成电路及其制造方法和制造装置无效

专利信息
申请号: 200610009273.8 申请日: 2002-09-25
公开(公告)号: CN1835191A 公开(公告)日: 2006-09-20
发明(设计)人: 谏田诚 申请(专利权)人: 夏普公司
主分类号: H01L21/288 分类号: H01L21/288;H01L21/768;H01L21/82;C25D7/12
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 王忠忠
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 在具备设置在储存镀液的电镀槽部上的阳极电极和与晶片的被镀覆面连接的阴极电极的半导体集成电路的制造装置中,还具备感应线圈和高频电源。而且,该半导体集成电路的制造装置由发生在上述感应线圈内的磁场和上述被镀覆面的电流而产生电磁力,用该电磁力一边使上述晶片振动,一边用电解镀覆法在该晶片上形成凸点电极。
搜索关键词: 半导体 集成电路 及其 制造 方法 装置
【主权项】:
1.一种半导体集成电路的制造装置,它是具备设置在储存镀液(6)的电镀槽部(7)上的阳极(4)和与半导体衬底(11)的被镀覆面连接的阴极(5),用电解镀覆法使电流流过设在上述镀液(6)中的半导体衬底(11)的上述被镀覆面,在该半导体衬底(11)上形成凸点电极(13)的半导体集成电路的制造装置(1),其特征在于:具备当形成上述凸点电极(13)时、能使上述半导体衬底(11)在上下方向振动的衬底振动装置(8、9);上述衬底振动装置(8、9)具备由电磁力使上述半导体衬底振动的感应线圈(8),以及向上述感应线圈供给高频电流的高频电源(9);上述感应线圈(8)离开与上述电镀槽部(7)一侧相反的一侧的上述半导体衬底(11)面一个规定的间隔而设置。
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