[发明专利]半导体集成电路及其检查方法和电磁波检测装置

摘要

本发明接受一种半导体集成电路及其检查方法和电磁波检测装置，半导体集成电路不设定多余的外部测试端，设置输出芯片信息用的控制电路(107)、以及被驱动产生电磁波的一种即热能的电阻(106)，使得非接触地取出制造信息及检查信息，将该半导体集成电路与作为电磁波检测装置的热检测装置组合，形成与自动试验装置联动的系统，从而在实际的半导体集成电路中，能够既确保安全性，又提高质量。

主权项

1.一种半导体集成电路，其特征在于，具有利用规定的输入信号，激活半导体基板的控制电路、以及利用所述控制电路的输出，将芯片信息作为电磁波输出的元件。