[发明专利]一种低温活性真空扩散连接陶瓷的方法无效

专利信息
申请号: 200610010356.9 申请日: 2006-08-02
公开(公告)号: CN1903795A 公开(公告)日: 2007-01-31
发明(设计)人: 何鹏;冯吉才;王明 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: C04B37/00 分类号: C04B37/00
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所 代理人: 荣玲
地址: 150001黑龙江*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 一种低温活性真空扩散连接陶瓷的方法,属于陶瓷焊接领域。为了解决现有陶瓷扩散连接技术中扩散连接温度高、扩散连接压力大的技术不足,本发明采用TiH2粉作为扩散连接中间层,TiH2粉在真空扩散连接加热过程中发生脱氢,即TiH2从500℃~800℃经历TiH2→Tix→α-Ti的连续脱氢过程,TiH2脱氢完全后可得到有效的活性Ti,它作为活性中间层存在于被连接材料的界面,由于金属Ti粉很细,可达到纳米级,因此具有较大的表面能,可以在相对较低的温度下实现陶瓷接头可靠的扩散连接。同时由于Ti颗粒中间层中存在一定的孔隙,且具有较大的塑性,也可以更好的缓和陶瓷与金属异种材料连接接头的内应力。
搜索关键词: 一种 低温 活性 真空 扩散 连接 陶瓷 方法
【主权项】:
1、一种低温活性真空扩散连接陶瓷的方法,其特征在于所述方法为:a、扩散连接前对母材表面进行物理清理或化学清理;b、把TiH2粉均匀的置于待焊母材的连接面上;c、在室温下给母材两端施加400~800MPa的压力,加压时间10~30min,使得TiH2粉中间层的孔隙率可保持在5%~10%之间;d、将夹装好的焊件置于真空扩散焊机内进行加热,在真空度为1×10-5~3×10-5Torr真空条件下进行扩散连接;e、焊接结束后焊件在原真空条件下降温至100℃时撤压,降温到室温时,取出焊件。
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