[发明专利]用于半导体激光器中光栅制作的腐蚀液及制作方法有效
申请号: | 200610011983.4 | 申请日: | 2006-05-25 |
公开(公告)号: | CN101078120A | 公开(公告)日: | 2007-11-28 |
发明(设计)人: | 付生辉;钟源;陈良惠 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | C23F1/16 | 分类号: | C23F1/16;H01S5/323 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 汤保平 |
地址: | 100083北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明一种用于半导体激光器中光栅制作的腐蚀液,其特征在于,该腐蚀溶液是按体积比为:Br2∶HBr∶H2O=1∶25∶480配制的混合溶液。本发明的有益效果是在GaInP材料上腐蚀出较好得光栅形貌,从而得到了好得器件性能。同时,该腐蚀液还可用于其它III-V族化合物半导体材料的腐蚀,具有广泛的应用价值。 | ||
搜索关键词: | 用于 半导体激光器 光栅 制作 腐蚀 制作方法 | ||
【主权项】:
1、一种用于半导体激光器中光栅制作的腐蚀液,其特征在于,该腐蚀溶液是按体积比为:Br2∶HBr∶H2O=1∶25∶480配制的混合溶液。
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