[发明专利]共轴双探测面的激光粒度仪有效
| 申请号： | 200610013967.9 | 申请日： | 2006-05-31 |
| 公开（公告）号： | CN1865918A | 公开（公告）日： | 2006-11-22 |
| 发明（设计）人： | 葛宝臻;魏永杰;魏耀林 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01N21/45 |
| 代理公司： | 天津佳盟知识产权代理有限公司 | 代理人： | 侯力 |
| 地址： | 300072天津*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 一种共轴双探测面的激光粒度仪。解决现有激光粒度仪，尤其是干法测量的激光粒度仪动态范围较小、不能满足宽分布粒径测量需要、调整也比较繁琐的问题。本发明包括激光发射器和接收器，接收器包括与激光发射器光束同轴依次设置的第一透镜、位于第一透镜焦平面上的第一多元光电探测器、第二透镜、位于第一与第二透镜组合焦平面上的第二多元光电探测器。该激光粒度仪一次就能完成总量程范围内的粒度测量，扩大了动态范围，尤其适用工作距离比较大的颗粒度测量。多元光电探测器整体制作，光电特性一致性好，对于信号采集有利，也容易获得无探测盲区的信号；测量时器件间的相对位置保持不变，简化了仪器调整和测量操作，可提高自动化测量水平。 | ||
| 搜索关键词： | 共轴双 探测 激光 粒度 | ||
【主权项】：
1、一种共轴双探测面的激光粒度仪，包括激光发射器和接收器，其特征是接收器包括与激光发射器光束同轴依次设置的第一透镜、位于第一透镜的焦平面(P1)上的第一多元光电探测器、第二透镜、位于第一与第二透镜的组合焦平面(P2)上的第二多元光电探测器。
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