[发明专利]采用纳米级半导体材料为基底进行SERS检测的方法

摘要

本发明属于分子识别技术领域，具体涉及采用纳米级半导体材料作为表面增强拉曼散射基底，进而进行SERS测试的新方法。包括半导体纳米材料的表面功能化和检测修饰到半导体表面的探针分子SERS信号两部分。SERS信号经历显著的增强，其增强因子可达10⁴。本发明在许多半导体和探针分子的组合上都表现出强的SERS信号，包括碲化镉、硫化镉、氧化锌、硫化锌、硫化铅、二氧化钛、四氧化三铅或氧化铅等半导体材料和巯基吡啶、对氨基苯硫酚、吡啶、巯基苯甲酸、1，4－2[2－(4－吡啶基)乙烯基]－苯、2－2联吡啶或4－4联吡啶等探针分子。可被广泛应用于先进材料、表面处理、催化作用、电化学、腐蚀和生物传感器等方面。

主权项

1、采用纳米级半导体材料为基底进行SERS检测的方法，包括表面修饰探针分子的纳米半导体的制备和采用半导体纳米材料作为基底进行SERS测试两个步骤，其特征在于：在100ml的纯净水中加入0.02～1.0g的探针分子，通氮气，剧烈搅拌至完全溶解，加入1～10ml、0.1M的Zn、Pb或Cd金属盐的去离子水溶液，2～10h后再加入0.5～5.0ml、0.1M的含有S2-的去离子水溶液，继续搅拌6～24h后，离心水洗，即得探针分子修饰的ZnS或CdS粒子的溶胶或粉体及PbS粉末，进而采用拉曼谱仪以半导体材料为基底进行SERS检测，检测吸附到纳米半导体表面的SERS信号比体相分子拉曼信号明显增强，增强因子达到102～104。