[发明专利]直流电流非接触测量方法无效

专利信息
申请号: 200610017348.7 申请日: 2006-01-17
公开(公告)号: CN1800862A 公开(公告)日: 2006-07-12
发明(设计)人: 张兴杰;王清波 申请(专利权)人: 王清波;张兴杰
主分类号: G01R19/00 分类号: G01R19/00
代理公司: 郑州异开专利事务所 代理人: 韩华
地址: 450053河*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明公开了一种直流电流非接触测量方法,它包含下述步骤:a.在高导磁率的环形铁芯A上缠绕三个绕组,b.将被检测直流回路的导线W3穿过所述环形铁芯A;c.向激磁绕组W1通入交变对称的三角波激磁电流i使磁芯A饱和,通过所述检测电路检测出测量绕组W2的相移时间Δt;d.通过检测到的相移时间Δt为正值或为负值即可确定被测直流电流I的方向和大致强度,然后给反馈绕组W4通入反馈电流I0,反馈电流I0的方向与被测直流电流I方向相反,用以削弱被测直流电流I产生的直流偏置磁场,当相移时间Δt=0时,用此时的反馈电流I0的数值乘以反馈绕组W4的匝数即得被测直流电流I的大小。本发明优点在于实现了高精度、大范围直流电流非接触在线测量。
搜索关键词: 直流 电流 接触 测量方法
【主权项】:
1、一种直流电流非接触测量方法,其特征在于:它包含下述步骤:a、在高导磁率的环形铁芯A上缠绕三个绕组,即激磁绕组W1,测量绕组W2,和一个反馈绕组W4;将测量绕组W2的两端抽头与检测电路输入端电连接;将反馈绕组W4的两端抽头与检测电路输出端电连接;b、将被检测直流回路的导线W3穿过所述环形铁芯A;c、向激磁绕组W1通入交变对称的三角波激磁电流i使磁芯A饱和,通过所述检测电路检测出测量绕组W2的相移时间Δt;所述的相移时间是指:被检测直流回路的导线W3所产生的直流偏置磁场会破坏铁芯A中交变磁通的对称性,此时测量绕组W2的输出将反映出对称性被破坏的程度——信号的正负半波不对称,也就是正负半波的占空比的大小发生了改变,正、负半波各自所占的时间t2、t1相减得到一个时间差,即为相移时间Δt;d、通过检测到的相移时间Δt为正值或为负值即可确定被测直流电流I的方向和大致强度,然后给反馈绕组W4通入反馈电流I0,反馈电流I0的方向与被测直流电流I方向相反,用以削弱被测直流电流I产生的直流偏置磁场,然后再检测相移时间Δt,再调整反馈电流I0的大小,如此循环,使得相移时间Δt逼近0,当相移时间Δt=0时,此时反馈绕组W4完全抵消了由被测直流电流I产生的直流偏置磁场,用此时的反馈电流I0的数值乘以反馈绕组W4的匝数即得被测直流电流I的大小。
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