[发明专利]用低精度测量系统进行高精度测量的方法无效
| 申请号： | 200610019114.6 | 申请日： | 2006-08-07 |
| 公开（公告）号： | CN1877260A | 公开（公告）日： | 2006-12-13 |
| 发明（设计）人： | 张德煌;覃颖;江修 | 申请（专利权）人： | 三峡大学 |
| 主分类号： | G01D3/00 | 分类号： | G01D3/00 |
| 代理公司： | 宜昌市三峡专利事务所 | 代理人： | 成钢 |
| 地址： | 44300*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 一种用低精度测量系统进行高精度测量的方法，属于测量技术领域。本发明通过被测量或控制系统中的物理量，用精度为测量系统，连续或者断续的进行等精度测量N次，采集到一组等精度测量数据序列Xi (i＝1，2，…N)，所用的时间为ΔT；将得到的数据送入计算机进行处理后得到测量结果。对实时要求不高或无实时要求的测量或控制环境，利用低精度的测量系统，通过误差理论，对被测信号数据进行数据处理，在提高测量精度，达到系统的精度要求的同时，大幅度地降低测量系统的成本。 | ||
| 搜索关键词： | 精度 测量 系统 进行 高精度 方法 | ||
【主权项】：
1、一种用低精度测量系统进行高精度测量的方法，其特征在于：被测量或控制系统中的物理量X，用精度为d％测量系统，连续或者断续的进行等精度测量N次，采集到一组等精度测量数据序列Xi(i＝1，2，…N)，所用的时间为ΔT；将得到的数据送入计算机进行处理后得到测量结果。
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