[发明专利]一种锆钛酸铅铁电薄膜材料的制备方法无效

专利信息
申请号: 200610020876.8 申请日: 2006-05-23
公开(公告)号: CN1851039A 公开(公告)日: 2006-10-25
发明(设计)人: 张树人;张洪伟;黄文;刘敬松 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/06;C23C14/54
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610054四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 一种锆钛酸铅铁电薄膜材料的制备方法,属于电子材料技术领域,涉及氧化物电极与PZT薄膜生长取向的薄膜电容的制备。首先采用激光蒸发沉积法在MgO(100)基片上沉积LNO底电极;然后采用射频磁控溅射法在LNO底电极薄膜上沉积PZT铁电薄膜;接着采用直流磁控溅射法在PZT铁电薄膜上沉积Pt上电极;最后对PZT薄膜进行快速晶化处理。本发明制备的PZT铁电薄膜材料中,LNO和PZT同为(110)取向,PZT剩余极化达23.5μC/cm2-35.8μC/cm2,矫顽场达76.3kV/cm-120kV/cm,电滞回线形状饱和;LNO底电极表面光滑,颗粒均匀;PZT薄膜介电常数达200-570,损耗为5%-45%,经过108次反转,饱和极化和剩余极化分别只下降6%和12%,抗疲劳特性高于Pt底电极的PZT薄膜,漏电流密度达10-9A数量级,可用于薄膜电容器、铁电存储器等。
搜索关键词: 一种 锆钛酸 铅铁 薄膜 材料 制备 方法
【主权项】:
1、一种锆钛酸铅铁电薄膜材料的制备方法,其特征在于,包括以下顺序步骤:步骤1)、采用激光蒸发沉积法在MgO(100)基片上沉积LNO底电极薄膜;步骤2)、采用射频磁控溅射法在步骤1)所得的LNO底电极薄膜上沉积PZT铁电薄膜;步骤3)、采用直流磁控溅射法在步骤2)所得的PZT铁电薄膜上沉积Pt金属上电极薄膜;步骤4)、快速晶化处理PZT薄膜。
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