[发明专利]电源设备老化试验方法及装置无效

专利信息
申请号: 200610021276.3 申请日: 2006-06-27
公开(公告)号: CN1869728A 公开(公告)日: 2006-11-29
发明(设计)人: 陈京川;丁时安;黄凤江;黄兴华;唐燕春 申请(专利权)人: 迈普(四川)通信技术有限公司
主分类号: G01R31/40 分类号: G01R31/40;G01R31/42
代理公司: 成都虹桥专利事务所 代理人: 李顺德
地址: 610041四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明涉及电源技术,特别涉及电源设备老化试验。本发明针对现有老化试验方法,装置利用率低,运行成本高的缺点,提供了一种电源设备老化试验方法及装置。本发明的技术方案是,电源设备老化试验方法,在电源设备老化试验中,对所述电源设备进行开关机冲击试验。本发明的电源设备老化试验装置,包括配电柜和功率负载机柜,开关机控制器;所述开关机控制器与所述功率负载机柜连接,控制功率负载机柜的电源。本发明的有益效果是,提高了电源老化的严酷等级,能够有效检测元器件抗开机浪涌电流的能力;电源设备老化时,处于间歇工作状态,电阻负载发热量低,可以增加电源设备放置密度,提高老化试验装置利用率,节约生产成本。
搜索关键词: 电源 设备 老化试验 方法 装置
【主权项】:
1.电源设备老化试验方法,其特征在于,在电源设备老化试验中,对所述电源设备进行开关机冲击试验。
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