[发明专利]激光光束质量测量装置无效

专利信息
申请号: 200610023419.4 申请日: 2006-01-18
公开(公告)号: CN1800794A 公开(公告)日: 2006-07-12
发明(设计)人: 于永爱;唐前进;张玲玲;胡企铨 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01J1/00 分类号: G01J1/00
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 代理人: 张泽纯
地址: 201800上*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种激光光束质量测量装置,包括聚焦透镜、衰减片、采集光斑的CCD和带有高速采集卡的计算机,其特点是所述的衰减片是一漫散射板,在所述的聚焦透镜和漫散射板之间有一分光器件,该分光器件由与光路成45°平行放置在光路中的第一平板和第二平板构成,该第一平板和第二平板有一错位m,第一平板的内表面的反射率为100%,第二平板内表面的反射率的取值范围为90%~99%,第二平板的外表面镀有增透膜。本发明可以对重复率、高能激光器的光束质量进行准确的测量,它既能对高斯光束进行测量,又能对非高斯光束的光束质量用桶中功率比的方法评价,本发明还具有结构简单、实用和稳定的特点。
搜索关键词: 激光 光束 质量 测量 装置
【主权项】:
1、一种激光光束质量测量装置,包括聚焦透镜(1)、衰减片(5)、采集光斑的CCD(6)和带有高速采集卡(7)的计算机(8),其特征是所述的衰减片(5)是一漫散射板,在聚焦透镜(1)和漫散射板(5)之间有一分光器件(2),该分光器件(2)由与光路成45°平行放置在光路中的第一平板(3)和第二平板(4)构成,该第一平板(3)和第二平板(4)有一错位m,其中第一平板(3)的内表面的反射率为100%,第二平板(4)内表面的反射率的取值范围为90%~99%,第二平板(4)的外表面镀有增透膜,第一平板(3)和第二平板(4)的位置满足如下关系: d<m<2h×tanα L≥10×d其中:d为经该分光器件(2)后的出射光在漫散射板(5)上的两相邻光斑之间的距离,d>被测光斑在焦斑处束腰大小的倍;m为两平板之间的错位;h为两平板之间的距离;α为被测光束对第一平板(3)的入射角;L为平板的长度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海光学精密机械研究所,未经中国科学院上海光学精密机械研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200610023419.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top