[发明专利]调节磁控溅射反应气体分压制备Ti-Si-N膜的方法无效

专利信息
申请号: 200610023448.0 申请日: 2006-01-19
公开(公告)号: CN1804113A 公开(公告)日: 2006-07-19
发明(设计)人: 蔡珣;徐晔;陈秋龙;沈耀;胡亚威 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/14;C23C14/56;C23C14/54
代理公司: 上海交达专利事务所 代理人: 王锡麟;王桂忠
地址: 200240*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种薄膜技术领域的调节磁控溅射反应气体分压制备Ti-Si-N膜的方法。本发明采用直流反应磁控溅射,溅射靶为Ti-Si镶嵌靶,工作气氛为氮气和氩气的混合气氛,Ti-Si镶嵌靶上Ti、Si有效溅射面积比固定,总工作气压固定,通过在0.002Pa-0.04Pa之间改变氮气分压,制备得到Ti-Si-N纳米复合膜。本发明可以简化原有的工艺方法,仅通过改变一种反应气体的气体分压就可方便地控制膜层的成分、微观组织结构和力学性能,具有较强的实用性。
搜索关键词: 调节 磁控溅射 反应 气体 压制 ti si 方法
【主权项】:
1、一种调节磁控溅射反应气体分压制备Ti-Si-N膜的方法,其特征在于,采用直流反应磁控溅射,溅射靶为Ti-Si镶嵌靶,工作气氛为氮气和氩气的混合气氛,Ti-Si镶嵌靶上Ti、Si有效溅射面积比固定,总工作气压固定,通过在0.002Pa-0.04Pa之间改变氮气分压,制备得到Ti-Si-N纳米复合膜。
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