[发明专利]一种晶片检测装置和晶片检测方法

摘要

一种晶片检测装置(1)，包括主体部(10)和支撑台(11)，主体部包括吸取晶片的机械手(12)、检测晶片(2)的检测器(13)，装有晶片的盒子(3)放置在所述支撑台上，支撑台可沿垂直方向上下移动，支撑台升至最高位置时，检测器的位置高于盒子顶面(31)。本发明相应提供一种晶片检测方法，包括步骤：将装有晶片的盒子置于支撑台上；支撑台上升至最高位置；将检测器的位置调整到高于所述盒子的顶面的位置；将支撑台下降到机械手能够吸取晶片的位置；机械手吸取晶片并移动到检测装置的下方；检测器检测晶片尺寸与位置；机械手将晶片放回到晶片盒子中。本发明的晶片检测装置和晶片检测方法有效避免晶片检测过程中造成晶片损坏。

主权项

1.一种晶片检测装置，包括主体部和支撑台，所述主体部包括吸取晶片的机械手、检测晶片的检测器，装有晶片的盒子放置在所述支撑台上，支撑台可沿垂直方向上下移动，其特征在于：所述支撑台移动到最高位置时，所述检测器的位置高于所述盒子的顶面。