[发明专利]一种用于电极充放电过程的X衍射原位测试装置无效

专利信息
申请号: 200610025206.5 申请日: 2006-03-29
公开(公告)号: CN1844947A 公开(公告)日: 2006-10-11
发明(设计)人: 娄豫皖;杨传铮;张建;夏保佳 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: G01R31/36 分类号: G01R31/36
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 代理人: 潘振甦
地址: 200050*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种电池充放电过程的X射线衍射原位(in-situ XRD)测试装置及其使用方法,其特征在于它是由XRD原位测试样品架和平板电池组成。XRD原位测试样品架为用绝缘材料加工的长方体板,它由平板电池槽、平板电池引线槽及带有四个固定孔的用于固定平板电池的盖板。所述的平板电池是由被测电极、辅助电极和环形辅助电极组成,被测电极置于两个辅助电极之间并用隔膜隔开。将组装好的平板电池浸泡电解液后,安装在XRD原位测试样品架上并用保护膜及盖板密封和固定,连接外电路,即可进行XRD原位测试。
搜索关键词: 一种 用于 电极 放电 过程 衍射 原位 测试 装置
【主权项】:
1、一种用于电极充放电过程的X衍射原位测试装置,其特征由样品架和平板电池组成;所述的样品架为用绝缘材料加工成的长方体板,它是由平板电池槽、平板电池引线槽以及带有固定孔的用于固定平板电池的盖板组成;所述的平板电池是由一个带有引线的被测电极、一个带有引线的平板辅助电极和一个带有引线的环形辅助电极组成,被测电极置于两个辅助电极之间并用保护隔膜隔开。
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