[发明专利]基于小波和共生矩阵的纹理表面缺损检测方法无效

专利信息
申请号: 200610026087.5 申请日: 2006-04-27
公开(公告)号: CN1845175A 公开(公告)日: 2006-10-11
发明(设计)人: 韩彦芳;施鹏飞 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00
代理公司: 上海交达专利事务所 代理人: 王锡麟;王桂忠
地址: 200240*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种图像处理技术领域的纹理表面缺损检测方法,步骤为:(1)对原始图像进行多水平小波变换;(2)计算并分析小波变换后各水平上低频近似子图像的共生矩阵特征;(3)选择合适分解水平,得到滤除纹理后的缺损图像;(4)采用传统无纹理缺损检测技术进行检测。本发明结合小波变换和共生矩阵滤除图像中高频的纹理信息,将纹理缺损检测问题转化为较简单的无纹理缺损检测,不需要大量样本训练分类器,提高了检测效率,同时不需要标准图像样本,可以直接对缺损图像进行处理。
搜索关键词: 基于 共生 矩阵 纹理 表面 缺损 检测 方法
【主权项】:
1、一种基于小波和共生矩阵的纹理表面缺损检测方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)对原图像进行多水平小波变换:通过小波变换,将图像分解为不同频率部分,对每一分解水平上的低频近似子图像继续进行分解,构成多水平小波变换:(2)计算共生矩阵特征:根据步骤(1)得到的一系列低频近似子图像,计算纹理共生矩阵及其局部同质性特征,得到图像平滑程度随分解水平的变化情况;(3)选择分解水平:根据步骤(2)的计算结果,计算各分解水平上局部同质性特征的差分,求差分最大值对应的分解水平即所求的分解水平;(4)无纹理缺损图像检测:在步骤(3)得到的分解水平的基础上,重构图像,得到包括缺损在内的无纹理图像,采用无纹理缺损检测方法进行检测。
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