[发明专利]基于小波和共生矩阵的纹理表面缺损检测方法无效
申请号: | 200610026087.5 | 申请日: | 2006-04-27 |
公开(公告)号: | CN1845175A | 公开(公告)日: | 2006-10-11 |
发明(设计)人: | 韩彦芳;施鹏飞 | 申请(专利权)人: | 上海交通大学 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00 |
代理公司: | 上海交达专利事务所 | 代理人: | 王锡麟;王桂忠 |
地址: | 200240*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种图像处理技术领域的纹理表面缺损检测方法,步骤为:(1)对原始图像进行多水平小波变换;(2)计算并分析小波变换后各水平上低频近似子图像的共生矩阵特征;(3)选择合适分解水平,得到滤除纹理后的缺损图像;(4)采用传统无纹理缺损检测技术进行检测。本发明结合小波变换和共生矩阵滤除图像中高频的纹理信息,将纹理缺损检测问题转化为较简单的无纹理缺损检测,不需要大量样本训练分类器,提高了检测效率,同时不需要标准图像样本,可以直接对缺损图像进行处理。 | ||
搜索关键词: | 基于 共生 矩阵 纹理 表面 缺损 检测 方法 | ||
【主权项】:
1、一种基于小波和共生矩阵的纹理表面缺损检测方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)对原图像进行多水平小波变换:通过小波变换,将图像分解为不同频率部分,对每一分解水平上的低频近似子图像继续进行分解,构成多水平小波变换:(2)计算共生矩阵特征:根据步骤(1)得到的一系列低频近似子图像,计算纹理共生矩阵及其局部同质性特征,得到图像平滑程度随分解水平的变化情况;(3)选择分解水平:根据步骤(2)的计算结果,计算各分解水平上局部同质性特征的差分,求差分最大值对应的分解水平即所求的分解水平;(4)无纹理缺损图像检测:在步骤(3)得到的分解水平的基础上,重构图像,得到包括缺损在内的无纹理图像,采用无纹理缺损检测方法进行检测。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海交通大学,未经上海交通大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200610026087.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:手持式电子装置的指令处理系统
- 下一篇:膜生物反应器膜组件完整性检测系统