[发明专利]三元硅化物高温原位氧化的检测方法无效

专利信息
申请号: 200610028326.0 申请日: 2006-06-29
公开(公告)号: CN1869641A 公开(公告)日: 2006-11-29
发明(设计)人: 王方;单爱党;董显平;孙锋;吴建生 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G01N5/04 分类号: G01N5/04
代理公司: 上海交达专利事务所 代理人: 王锡麟;王桂忠
地址: 200240*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种三元硅化物高温原位氧化的检测方法,属于用于材料高温氧化测试领域。本发明将钻有圆孔并且测量了表面积的三元硅化物材料试样用烧至恒重的铂铑丝悬挂,与试样相连的铂铑丝的一端伸入高温炉膛中间位置,铂铑丝的另一端处于炉膛外面与镍铬丝相连,镍铬丝悬挂于棉线下,棉线固定在电子天平底座的挂钩上,电子天平与计算机用数据线相连,试样在高温炉中随炉加热,当温度上升到540℃时,试样开始氧化,试样的质量发生变化,与电子天平相连的计算机连续记录试样的质量变化,根据该变化反映试样的抗氧化性。本发明试验方法易行,试验装置简单,不仅可用于原位氧化,还可用于循环氧化,非常直观方便地测试高温材料三元硅化物材料的高温抗氧化能力。
搜索关键词: 三元 硅化物 高温 原位 氧化 检测 方法
【主权项】:
1.一种三元硅化物高温原位氧化的检测方法,其特征在于:将钻有圆孔并且测量了表面积的三元硅化物材料试样用烧至恒重的铂铑丝悬挂,与试样相连的铂铑丝的一端伸入高温炉膛中间位置,铂铑丝的另一端处于炉膛外面与镍铬丝相连,镍铬丝悬挂于棉线下,棉线固定在电子天平底座的挂钩上,电子天平与计算机用数据线相连,试样在高温炉中随炉加热,当温度上升到540℃时,试样开始氧化,试样的质量发生变化,与电子天平相连的计算机连续记录试样的质量变化,根据该变化反映试样的抗氧化性。
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