[发明专利]一种用于芯片数据分析的可视化分析和展示方法有效

专利信息
申请号: 200610028348.7 申请日: 2006-06-29
公开(公告)号: CN101097585A 公开(公告)日: 2008-01-02
发明(设计)人: 金刚;王超;谢松旻 申请(专利权)人: 中国科学院上海生命科学研究院
主分类号: G06F19/00 分类号: G06F19/00;G06F17/00
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 徐迅
地址: 20003*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种基因芯片数据的可视化分析和展示方法,它能提供直观的芯片可视化方法,能方便展示大规模的芯片数据。其技术方案为:该方法包括:(1)第一次利用自组织映射的神经网络来模拟和学习芯片数据;(2)利用组成分平面来展示步骤(1)得到的单个芯片/样本的数据,将所述神经网络中的多维神经元载体的单个组成分分离出来,同时用二维平面展示经步骤(1)学习到的数据结构;(3)第二次利用自组织映射的神经网络来学习多个样本之间的关系,并利用最佳匹配单元原理将学习到的组平面/样本关系投射到二维空间,同时展示数据中样本和基因之间的关系。本发明应用于大规模基因芯片数据分析技术领域。
搜索关键词: 一种 用于 芯片 数据 分析 可视化 展示 方法
【主权项】:
1一种用于芯片数据分析的可视化分析和展示方法,其特征在于,所述方法包括:(1)第一次利用自组织映射的神经网络来模拟和学习芯片数据;(2)利用组成分平面来展示步骤(1)得到的单个芯片/样本的数据,将所述神经网络中的多维神经元载体的单个组成分分离出来,同时用二维平面展示经步骤(1)学习到的数据结构;(3)第二次利用自组织映射的神经网络来学习多个样本之间的关系,并利用最佳匹配单元原理将学习到的组平面/样本关系投射到二维空间,同时展示数据中样本和基因之间的关系。
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