[发明专利]超短脉冲频率分辨光学开光法测量装置

摘要

一种超短脉冲频率分辨光学开光法测量装置，该装置仅利用一块1×2反射式达曼光栅，还包括第一反射镜、第二反射镜、第三反射镜、计算机控制的微动台、透镜、非线性晶体和光谱仪，本发明仅用一块反射达曼光栅和三块反射镜实现了超短脉冲光测量，从而消除了传统的透/反射式光分束器对脉冲光的影响，同时达曼光栅的制造技术与微电子加工技术相兼容，因此具有易加工、成本低的优点。

主权项

1、一种超短脉冲频率分辨光学开光法测量装置，其特征在于该装置仅利用一块1×2反射式达曼光栅(12)，还包括第一反射镜(13)、第二反射镜(14-1)、第三反射镜(14-2)、计算机控制的微动台(15)、透镜(16)、非线性晶体(17)和光谱仪(18)，其位置关系如下：所述的反射式1×2达曼光栅(12)的周期为d(d□λc)，深度为λc/4，光栅刻槽水平放置，当一束中心波长为λc，宽度为τ0的飞秒脉冲光(11)在竖直平面内传输并以一个小角度α入射到所述的反射式1×2达曼光栅(12)上，在垂直平面内被分成-1级和+1级两束光，这两束光被放置在后面的第一反射镜(13)再反射到所述的反射式1×2达曼光栅(12)上，再次衍射后得到两束平行出射的光，这两束光分别被第三反射镜(14-2)和置于计算机控制的微动台(15)上的第二反射镜(14-1)反射后，再被所述的透镜(16)聚焦在非线性晶体(17)上，由该非线性晶体(17)的信号光被光谱仪(18)采集。