[发明专利]一种利用单根光纤光栅同时测量温度和应变的方法无效
| 申请号： | 200610028820.7 | 申请日： | 2006-07-11 |
| 公开（公告）号： | CN101105404A | 公开（公告）日： | 2008-01-16 |
| 发明（设计）人： | 贾宏志;杨春莉;姜博实 | 申请（专利权）人： | 上海理工大学 |
| 主分类号： | G01D5/353 | 分类号： | G01D5/353 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所 | 代理人： | 宁芝华 |
| 地址： | 200093*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明可利用单根光纤光栅同时测量温度和应变。通过测量光纤光栅的反射带宽来测量应变。方法是：从宽带光源发出的光经过3dB耦合器后入射到贴在待测物表面的测量光栅上，从测量光栅上反射回来的光经3dB耦合器入射到可调谐的F－P腔内，通过压电陶瓷的控制对反射光谱进行扫描，使用光敏二极管接收F－P腔的透射光，并将光信号转换为电信号，通过A/D转换系统将采集到的电信号送到计算机进行采样分析，同时计算机产生的控制信号经D/A转换装置，送回到压电陶瓷的控制系统中控制F－P腔的扫描采集过程，并在计算机上显示相应的谱线，数据处理后即可得到光纤光栅的反射带宽和峰值反射率，并计算出相应的应变和温度值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 光纤 光栅 同时 测量 温度 应变 方法 | ||
【主权项】：
1.一种利用单根光纤光栅同时测量温度和应变的方法，其特征在于：通过测量光纤光栅的反射带宽来测量应变。
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