[发明专利]一种通过有效残差系数分析提高编码效率的方法无效

专利信息
申请号: 200610030534.4 申请日: 2006-08-29
公开(公告)号: CN101137047A 公开(公告)日: 2008-03-05
发明(设计)人: 欧阳合;唐谦;叶玉国;仲巡;黄小振;沈立芸;林晓芸 申请(专利权)人: 上海杰得微电子有限公司
主分类号: H04N7/24 分类号: H04N7/24;G06T9/00
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 代理人: 丁纪铁;李隽松
地址: 201203上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种通过有效残差系数分析提高编码效率的方法。包括两个流程:残差系数编码流程和残差系数分析流程,首先,编码过程中获得了量化后的残差系数,此时,根据残差系数的相对位置,进行加权;残差系数按照指定的方式进行扫描,得到编码需要的run和level,残差系数level对应不同的run,编码代价不同,据此对残差系数进一步加权;将此加权值与给定的阈值进行比较,调整残差系数的取值;最后,重新获得新的run和level值,进行编码。本方法通过在残差系数编码的过程中,分析残差的不同特征,调整残差的值,从而提高编码效率和编码质量。
搜索关键词: 一种 通过 有效 系数 分析 提高 编码 效率 方法
【主权项】:
1.一种通过有效残差系数分析提高编码效率的方法,其特征在于,包括两个流程:残差系数编码流程和残差系数分析流程,其中所述残差系数编码流程包括如下顺序步骤:步骤一、对DCT变换后的残差系数进行量化;步骤二、按规定方式进行扫描,记录run和level,其中run为两个非零系数之间的间隔,level为非零系数的取值;步骤三、对run和level分别进行编码;所述残差系数分析流程包括如下顺序步骤:步骤a)根据量化系数的不同位置查表得到加权值,步骤b)对量化后的残差系数进行加权处理,步骤c)根据残差系数对应的run作进一步加权,与对应的阈值进行比较,处理残差系数;所述步骤b)的处理结果同时传输给所述步骤二,所述步骤c)的结果传输给所述步骤三。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海杰得微电子有限公司,未经上海杰得微电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200610030534.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top