[发明专利]一种通过有效残差系数分析提高编码效率的方法无效
申请号: | 200610030534.4 | 申请日: | 2006-08-29 |
公开(公告)号: | CN101137047A | 公开(公告)日: | 2008-03-05 |
发明(设计)人: | 欧阳合;唐谦;叶玉国;仲巡;黄小振;沈立芸;林晓芸 | 申请(专利权)人: | 上海杰得微电子有限公司 |
主分类号: | H04N7/24 | 分类号: | H04N7/24;G06T9/00 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人: | 丁纪铁;李隽松 |
地址: | 201203上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种通过有效残差系数分析提高编码效率的方法。包括两个流程:残差系数编码流程和残差系数分析流程,首先,编码过程中获得了量化后的残差系数,此时,根据残差系数的相对位置,进行加权;残差系数按照指定的方式进行扫描,得到编码需要的run和level,残差系数level对应不同的run,编码代价不同,据此对残差系数进一步加权;将此加权值与给定的阈值进行比较,调整残差系数的取值;最后,重新获得新的run和level值,进行编码。本方法通过在残差系数编码的过程中,分析残差的不同特征,调整残差的值,从而提高编码效率和编码质量。 | ||
搜索关键词: | 一种 通过 有效 系数 分析 提高 编码 效率 方法 | ||
【主权项】:
1.一种通过有效残差系数分析提高编码效率的方法,其特征在于,包括两个流程:残差系数编码流程和残差系数分析流程,其中所述残差系数编码流程包括如下顺序步骤:步骤一、对DCT变换后的残差系数进行量化;步骤二、按规定方式进行扫描,记录run和level,其中run为两个非零系数之间的间隔,level为非零系数的取值;步骤三、对run和level分别进行编码;所述残差系数分析流程包括如下顺序步骤:步骤a)根据量化系数的不同位置查表得到加权值,步骤b)对量化后的残差系数进行加权处理,步骤c)根据残差系数对应的run作进一步加权,与对应的阈值进行比较,处理残差系数;所述步骤b)的处理结果同时传输给所述步骤二,所述步骤c)的结果传输给所述步骤三。
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