[发明专利]测试图表的校正方法有效
| 申请号： | 200610030734.X | 申请日： | 2006-09-01 |
| 公开（公告）号： | CN101135603A | 公开（公告）日： | 2008-03-05 |
| 发明（设计）人： | 谢明宪;徐胜鹏;杨谨萍 | 申请（专利权）人： | 虹光精密工业（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00;G01M11/02;G01D3/02;H04N1/04 |
| 代理公司： | 上海市华诚律师事务所 | 代理人： | 徐申民;张惠萍 |
| 地址： | 215021江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 一种测试图表的校正方法。首先，利用参考扫描仪扫描参考图表以得到多个参考光学密度值。参考图表包含多个参考区块，其具有对应于上述参考光学密度值的不同光学密度。然后，利用参考扫描仪扫描待测图表以得到多个第一光学密度值。待测图表包含多个待测区块，其具有对应于上述第一光学密度值的不同光学密度且对应于上述参考区块。接着，利用将上述第一光学密度值分别转换成上述参考光学密度值的运算方式，得到补偿函数。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 图表 校正 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测试图表的校正方法，其特征在于，包含以下步骤：利用参考扫描仪扫描参考图表以得到多个参考光学密度值，该参考图表包含多个参考区块，所述多个参考区块具有对应于所述参考光学密度值的不同光学密度；利用所述参考扫描仪扫描待测图表以得到多个第一光学密度值，所述待测图表包含多个待测区块，所述多个待测区块具有对应于所述第一光学密度值的不同光学密度且对应于所述参考区块；及利用将所述第一光学密度值分别转换成所述参考光学密度值的运算方式，得到补偿函数。
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