[发明专利]一种内存故障测试的方法及系统

摘要

本发明公开了一种内存故障测试的方法，其是通过在被测试内存中选取至少三个位宽度与该内存数据总线的位宽度相同的内存地址单元，并对所选取的每个内存地址单元写入测试向量及读取相对应的测试读回值向量以及对该测试向量和测试读回值向量进行比较分析，来判断被测试内存的数据总线是否存在故障。本发明还公开了一种在嵌入式通信设备系统中进行内存故障测试的系统。通过本发明可以保证在进行嵌入式通信设备系统中内存故障测试时，其数据总线故障测试结果的真实性和准确性。

主权项

1、一种内存故障测试的方法，该方法包括以下步骤：A、对被测试内存的数据总线进行测试；B、对被测试内存的地址总线进行测试；C、对被测试内存的内部单元进行测试；其特征在于，所述步骤A具体包括以下步骤：A1、在被测试的内存中选取至少三个位宽度与该内存数据总线的位宽度相同的内存地址单元；A2、对选取的每个内存地址单元写入测试向量并读取相对应的测试读回值向量；A3、将所述对应每个内存地址单元的测试向量和测试读回值向量进行比较，若比较结果为至少两个内存地址单元对应的测试向量和测试读回值向量不同，且每一内存地址单元所对应的测试向量和测试读回值向量出现不同值的位置相同，则输出所述被测试内存的数据总线有故障的指示信息并结束内存测试；否则，则输出所述被测试内存的数据总线无故障的指示信息并执行步骤B。