[发明专利]微波介质基片介电常数的基片集成波导测量方法无效
| 申请号： | 200610039507.3 | 申请日： | 2006-04-13 |
| 公开（公告）号： | CN1828314A | 公开（公告）日： | 2006-09-06 |
| 发明（设计）人： | 洪伟;颜力 | 申请（专利权）人： | 东南大学 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26;G01R31/00 |
| 代理公司： | 南京经纬专利商标代理有限公司 | 代理人： | 陆志斌 |
| 地址： | 21009*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测量微波毫米波介质基片介电常数的方法，其方法是在同一块介质基片上制作两个不同长度的基片集成波导，在其两端连接有相同的微带一基片集成波导转换器，再通过高频SMA接头与矢量网络分析仪相连，分别用矢量网络分析仪测得其散射参数后，利用转移矩阵的级联方法提取出一段纯的基片集成波导的单次传输参数，并由此获得介质样本的相对介电常数。与现有技术相比，本发明具有如下优点：使介质介电常数测量方法的精确性得以提高，操作简单可靠，测量结果准确。 | ||
| 搜索关键词： | 微波 介质 介电常数 集成 波导 测量方法 | ||
【主权项】：
1、一种微波介质基片介电常数的基片集成波导测量方法，其特征在于在同一块介质基片上制作两个不同长度的基片集成波导，在其两端连接有相同的微带-基片集成波导转换器(511，512，521，522)，再通过高频SMA接头与矢量网络分析仪相连，分别用矢量网络分析仪测得其散射参数后，利用转移矩阵的级联方法提取出一段纯的基片集成波导的单次传输参数，并由此获得介质样本的相对介电常数。
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