[发明专利]高分子PTC元器件长期电老化试验快速检测装置无效
| 申请号： | 200610048990.1 | 申请日： | 2006-01-11 |
| 公开（公告）号： | CN1793993A | 公开（公告）日： | 2006-06-28 |
| 发明（设计）人： | 谭洪生;郑强 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 杭州求是专利事务所有限公司 | 代理人： | 张法高 |
| 地址： | 310027*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种高分子PTC元器件长期电老化试验快速检测装置。它具有一组双路开关，一组双路开关的动触点分别与多个待测发热元件一端相接，多个待测发热元件另一端互相连接，经总电流表与总电压表一端相接，总电压表另一端与一组双路开关的动触点相接，多个待测发热元件另一端与分电压表一端相接，分电压表另一端与一组双路开关的一静触点相接，一组双路开关的另一静触点互相连接，一组双路开关的一定触点经分电流表与双路开关的另一静触点相接。本发明在测量过程中，无需拆、接线和通、断电及电流恒定(时间极短，可忽略)等过程，使用该装置测量一个元件所花费的时间约是上述一般方法的五十分之一，大大提高了工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 高分子 ptc 元器件 长期 老化试验 快速 检测 装置 | ||
【主权项】：
1.一种高分子PTC元器件长期电老化试验快速检测装置，其特征在于，它具有一组双路开关(K1～Kn)，一组双路开关(K1～Kn)的一动触点分别与多个待测发热元件(R1～Rn)一端相接，多个待测发热元件(R1～Rn)另一端互相连接，经总电流表(A)与总电压表(V)一端相接，总电压表(V)另一端与一组双路开关(K1～Kn)的另一动触点相接，多个待测发热元件(R1～Rn)另一端与分电压表(V1)一端相接，分电压表(V1)另一端与一组双路开关(K1～Kn)的一静触点相接，一组双路开关(K1～Kn)的另一静触点互相连接，一组双路开关(K1～Kn)的一定触点经分电流表(A1)与双路开关(K1～Kn)的另一静触点相接。
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