[发明专利]精铝电解质成分的X射线荧光快速分析方法

摘要

本发明公开了一种精铝电解质成分的X射线荧光快速分析方法，它以纯氟体系精铝电解生产为基础，制得精铝电解质标准样品，并采用X射线荧光光谱法对精铝电解质成分进行分析；本发明大大提高了精铝电解质成分的分析速度，且具有准确度高、操作简便、检出限低、精密度好、误差小等优点，大大降低了分析成本，完全满足精铝生产的需要，填补了该项技术在国内铝行业应用的空白。

主权项

1、一种精铝电解质成分的X射线荧光快速分析方法，其特征在于：它按照以下步骤进行：A、以纯氟体系精铝电解生产为基础，选择精铝电解质中成份含量呈梯度分布的电解槽，从中采集精铝电解质试样并编号；B、将步骤A中采集到的熔融试样自然冷却1～3h，凝固成块状固体，然后破碎成粒度≥300目的细粉，并对其进行均匀性检验，得到精铝电解质标准样品；C、采用X射线荧光光谱仪对步骤B中得到的精铝电解质标准样品进行荧光强度电平扫描，得到精铝电解质中铝、钠、钡、钙元素的电平宽度；D、根据步骤C中得到的铝、钠、钡、钙元素的荧光强度，对照化学定值的化学含量绘制铝、钠、钡、钙元素的工作曲线，并设定氟化铝、氟化钠、氟化钡、氟化钙化合物的计算公式；E、根据步骤D中绘制的工作曲线和设定的计算公式，采用工作曲线法即可分析出精铝电解质中各成分。