[发明专利]在位式光电分析系统内管的置换方法及其装置有效

专利信息
申请号: 200610052130.5 申请日: 2006-06-25
公开(公告)号: CN1869651A 公开(公告)日: 2006-11-29
发明(设计)人: 王健;熊志才;何雪萍 申请(专利权)人: 王健
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01;G01N21/15;G01N21/31
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 310052浙江省杭州*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种在位式光电分析系统内管的置换方法,具体步骤为:a.关闭根部阀;b.卸下分析系统的测量探头,安装上内管置换装置,使被测环境仍与外界隔绝;c.打开根部阀,使操作杆与内管连接,把内管拉至根部阀的外侧;d.关闭根部阀,卸下置换装置;e.清理内管或更换新内管;f.把连接有内管的置换装置安装在根部阀的外侧,使被测环境仍与外界隔绝;g.打开根部阀,把内管安装在测量通道内,并把操作杆拉至根部阀的外侧,关闭根部阀;h.卸下置换装置,重新装上分析系统的测量探头,打开根部阀。本发明还公开了一种与上述置换方法相对应的内管置换装置。本发明实现了实时、简易、快速地置换内管,用于除污或更换损坏的内管。
搜索关键词: 在位 光电 分析 系统 置换 方法 及其 装置
【主权项】:
1、一种在位式光电分析系统内管的置换方法,涉及到系统的测量探头,以及将其与被测量环境相连接的测量通道,内管(30)安装在所述测量通道内,测量通道上设有根部阀(3),所述方法包含以下步骤:a.关闭测量通道上的根部阀(3),使被测环境与外界处于隔绝状态;b.卸下安装在根部阀(3)外侧的分析系统的测量探头,安装上内管置换装置(5),使被测环境仍与外界处于隔绝状态;c.打开根部阀(3),操作所述内管置换装置(5)内的操作杆(20)使其与内管(30)连接,把所述内管(30)拉至所述根部阀(3)的外侧;d.关闭根部阀(3),卸下内管置换装置(5);e.清理内管(30)或更换新的内管;f.把连接有内管的置换装置安装在根部阀(3)的外侧,使被测环境仍与外界处于隔绝状态;g.打开根部阀(3),操作置换装置内的操作杆(20),把内管(30)安装在测量通道内,并把操作杆(20)拉至根部阀(3)的外侧,关闭根部阀(3);h.卸下内管置换装置,重新装上分析系统的测量探头,打开根部阀(3)。
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