[发明专利]一种硅纳米线的制作方法无效

专利信息
申请号: 200610053849.0 申请日: 2006-10-17
公开(公告)号: CN1958436A 公开(公告)日: 2007-05-09
发明(设计)人: 王慧泉;金仲和;郑阳明;王跃林;李铁 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00;B82B3/00
代理公司: 杭州中成专利事务所有限公司 代理人: 陈祯祥
地址: 310027浙江省杭*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明涉及一种硅纳米线的制作方法。主要利用氢氟酸或含氢氟酸水溶液对掺杂形成p-n结结构n型硅的选择性腐蚀实现两维尺寸可精确控制的硅纳米线的工艺简单、可靠及批量制作。利用该方法制作硅纳米线,通过改变设计参数及腐蚀时间,可以制作两维尺寸10纳米左右的硅纳米线;通过图形设计,可以制作出多种以硅纳米线为基础的纳机电器件。使用本发明制作的硅纳米线,可以研究低维半导体材料的力学、电学等特性;制作多种纳机电器件,应用前景广阔。本发明工艺简单,制作成本低,并可批量生产。
搜索关键词: 一种 纳米 制作方法
【主权项】:
1、一种硅纳米线的制作方法,其特征是利用氢氟酸或含氢氟酸水溶液腐蚀掺杂形成p-n结结构n型硅的选择性腐蚀工艺实现硅纳米线制作。
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