[发明专利]半导体设计装置无效
| 申请号： | 200610055093.3 | 申请日： | 2006-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN1828618A | 公开（公告）日： | 2006-09-06 |
| 发明（设计）人： | 石山裕浩 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 黄小临;王志森 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供了差别部分检测部分，用于检测仿真结果的差别部分；差别检测部分，用于检测仿真结果中的差别；输入差别部分显示部分，用于显示含差别的具有不同仿真模式的任何电路；差别部分显示部分，用于显示在仿真结果中具有差别的电路；条件显示部分，用于在电路图上显示仿真中所使用的选项；记录管理部分，用于管理仿真结果的执行历史；条件检查部分，用于查明在仿真的执行过程中是否在每个电路中精确地设置了条件；以及匹配检查部分，用于确认仿真模式之间管脚的名称和数目的非一致。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 设计 装置 | ||
【主权项】：
1.一种半导体设计装置，包括：输入部分，输入数据；CPU，进行数据处理；仿真执行部分，基于从所述输入部分输入的数据执行电路的仿真；仿真数据库，存储所述仿真的执行结果；以及差别部分检测部分，检测所述仿真结果的差别部分。
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