[发明专利]振镜式快扫描电光取样的THz检测系统和方法

摘要

本发明公开了一种振镜式快扫描电光取样的THz检测系统和检测方法，该检测系统包括THz波的扫描延迟系统、THz波时域电光取样系统、信号检测与数据处理系统，其特征在于THz波的扫描延迟系统由现有的电动平移台扫描延迟系统替换成振镜式快扫描延迟系统，振镜式快扫描延迟系统包括两块振镜、振镜底座、扬声器、支杆、平移台，扬声器通过支杆安装到平移台上，振镜固定在振镜底座上，振镜底座再固定在扬声器震荡腔的振动面上。检测方法是在上述检测系统基础上实现的，振镜式快扫描延迟系统中的扬声器震荡腔的振动面在控制信号的作用下作往复运动，从而造成THz波的延迟，进而实现电光取样，再通过信号检测和处理数据，实现快速的THz电光取样探测。

主权项

1.一种振镜式快扫描电光取样的THz检测系统，包括THz波的扫描延迟系统[4]、THz波时域电光取样系统[12]、信号检测与数据处理系统[13]，其特征在于THz波的扫描延迟系统[4]由现有的电动平移台扫描延迟系统替换成振镜式快扫描延迟系统，振镜式快扫描延迟系统[4]包括两块振镜[M3和M4]、振镜底座[44]、扬声器[43]、支杆[42]、平移台[41]，扬声器[43]通过支杆[42]安装到平移台上[41]，振镜[M3和M4]固定在振镜底座[44]上，振镜底座[44]再固定在扬声器[43]震荡腔的振动面上。