[发明专利]扫描探针显微镜有效
申请号: | 200610058365.5 | 申请日: | 2006-03-03 |
公开(公告)号: | CN1831513A | 公开(公告)日: | 2006-09-13 |
发明(设计)人: | 大田昌弘 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | G01N13/10 | 分类号: | G01N13/10 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 寿宁;张华辉 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种扫描探针显微镜,它根据观察对象或观察目的,无需交换扫描仪,在维持高分辨率的状态下,可进行微小范围至广域的观察。该扫描探针显微镜中,设有使探针13在X-Y-Z轴方向上移动的探针侧扫描仪10与使样品12在X-Y-Z轴方向上移动的样品侧扫描仪11这两个扫描仪。使用最大扫描范围较小的扫描仪作为探针侧扫描仪10,使用最大扫描范围较大的扫描仪作为样品侧扫描仪11,并根据观察对象或观察目的掉换二者而使用。或者,利用探针侧扫描仪10进行微小范围的扫描,并且通过样品侧扫描仪11使观察视野移动。 | ||
搜索关键词: | 扫描 探针 显微镜 | ||
【主权项】:
1.一种扫描探针显微镜,其通过微小探针扫描样品表面,以此检测样品表面的三维形状或物理量,其特征在于具有:a)探针移动机构,其使探针在X-Y-Z轴方向上移动;以及b)样品移动机构,其使样品在X-Y-Z轴方向上移动。
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