[发明专利]具有基于电流发生器的斜坡形偏压结构的存储器件有效
申请号: | 200610059263.5 | 申请日: | 2006-01-27 |
公开(公告)号: | CN1835120A | 公开(公告)日: | 2006-09-20 |
发明(设计)人: | M.斯福尔津;N.德尔加托;M.费拉里奥;E.康法罗尼里 | 申请(专利权)人: | 意法半导体股份有限公司 |
主分类号: | G11C11/56 | 分类号: | G11C11/56 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 程天正;陈景峻 |
地址: | 意大利*** | 国省代码: | 意大利;IT |
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摘要: | 提出一种存储器件(100)。该存储器件包括各存储一个值的多个存储单元(Mc),至少一个参考单元(Mr0-Mr2),用于以具有基本上单调时间图案的偏压(Vc、Vr)偏置一组选择存储单元和至少一个参考单元的偏置装置(115),用于检测各个选择存储单元和各个参考单元的电流(Ic、Ir)达到阈值的装置(130),和用于根据选择存储单元和至少一个参考单元的电流达到阈值的时间关系确定各个选择存储单元中存储的值的装置(145)。偏置装置包括向选择存储单元和至少一个参考单元施加预定偏置电流(Ib)的装置(305)。 | ||
搜索关键词: | 具有 基于 电流 发生器 斜坡 偏压 结构 存储 器件 | ||
【主权项】:
1、一种存储器件(100),包括各存储一个值的多个存储单元(Mc),至少一个参考单元(Mr0-Mr2),用于用具有基本上单调时间图案的偏压(Vc、Vr)偏置一组选择存储单元和至少一个参考单元的偏置装置(115),用于检测各个选择存储单元和各个参考单元的电流(Ic、Ir)达到阈值的装置(130),和用于根据选择存储单元和至少一个参考单元的电流达到阈值的时间关系确定各个选择存储单元中存储的值的装置(145),其特征在于:偏置装置包括向选择存储单元和至少一个参考单元施加预定偏置电流(Ib)的装置(305)。
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