[发明专利]一种解决芯片失效故障的方法有效
| 申请号： | 200610060346.6 | 申请日： | 2006-04-16 |
| 公开（公告）号： | CN101042661A | 公开（公告）日： | 2007-09-26 |
| 发明（设计）人： | 蒋麟军;谢建湘 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/00 | 分类号： | G06F11/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518129广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种解决芯片失效故障的方法，其包括：主CPU利用从CPU的空闲时间定时向从CPU发起业务功能检测的测试消息请求，通知从CPU进行指定通道或话路的正常性测试；从CPU收到该测试消息请求后调用其内正常运行的程序模块进行环回测试，判断测试结果的正确性；从CPU测试完成后，根据测试结果向主CPU回复一条测试响应消息；主CPU根据测试响应消息进行相应处理，如果测试结果为正确，则不对该从CPU的话路分配做任何改动；如果测试结果为错误或等待测试响应消息超时，则主CPU将从CPU的所有话路分配的优先级降低。通过采用该方法，可以提前发现故障隐患，确保了整个系统的可靠性和稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 解决 芯片 失效 故障 方法 | ||
【主权项】：
1、一种解决芯片失效故障的方法，其特征在于：主CPU的业务模块向从CPU发起业务功能检测的测试消息请求；从CPU收到所述测试消息请求后调用其内正常运行的程序模块进行环回测试，判断测试结果的正确性；从CPU根据所述测试结果向主CPU业务模块回复一条测试响应消息；主CPU的业务模块根据所述测试响应消息进行相应处理。
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