[发明专利]高频高压测量装置有效

专利信息
申请号: 200610061943.0 申请日: 2006-07-31
公开(公告)号: CN101118253A 公开(公告)日: 2008-02-06
发明(设计)人: 李名兆;周迎春;卢瑞祥;朱崇全;陈华平;韩世梅 申请(专利权)人: 深圳市计量质量检测研究院
主分类号: G01R19/00 分类号: G01R19/00
代理公司: 深圳市科吉华烽知识产权事务所 代理人: 胡吉科
地址: 518410广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种高频高压测量装置,该高频高压测量装置包括:用于引入高压信号的分压器;对分压器的分压信号进行采集的数据采集单元;以及对数据采集单元的采样信号进行处理并显示的数据处理及显示单元。采用上述结构,通过分压器对高压信号进行分压后,对分压信号进行信号采集,以获得连续变化的分压信号,并通过数据处理获得与其相对应的高压信号的各种参数。这种高频高压测量装置适用于测量各种频率以及波形的高压信号的多种参数。
搜索关键词: 高频 高压 测量 装置
【主权项】:
1.一种高频高压测量装置,所述高频高压测量装置包括用于引入高压信号的分压器,其特征在于:所述高频高压测量装置进一步包括:对所述分压器的分压信号进行采集的数据采集单元;以及对所述数据采集单元的采样信号进行处理并显示的数据处理及显示单元。
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