[发明专利]跌落测试系统及测试方法无效
申请号: | 200610062734.8 | 申请日: | 2006-09-22 |
公开(公告)号: | CN101149330A | 公开(公告)日: | 2008-03-26 |
发明(设计)人: | 凌维成 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
主分类号: | G01N19/00 | 分类号: | G01N19/00;G01M11/08 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518109广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 一种跌落测试系统,包括一个定位控制器、一个用于对待测试件进行取像和测量该待测试件位置的取像定位装置、一个用于取放待测试件的取放装置以及一个根据所述取像定位装置的测量取像结果来控制该取放装置的控制装置。所述控制装置分别与所述取像定位装置、取放装置及定位控制器电气相连。所述定位控制器在所述控制装置的作用下控制所述取放装置作业。该取放装置在控制装置及定位控制器的控制下,取放待测试件来对其进行跌落测试。该跌落测试系统可以自动取放待测试件,提高了测试速度与测试效率。 | ||
搜索关键词: | 跌落 测试 系统 方法 | ||
【主权项】:
1.一种跌落测试系统,其特征在于: 包括一个定位控制器、一个用于对该待测试件进行取像和测量待测试件位置的取像定位装置、一个用于取放待测试件的取放装置以及一个根据所述取像定位装置的测量取像结果来控制该取放装置的控制装置,所述控制装置分别与所述取像定位装置、取放装置及定位控制器电气相连,所述定位控制器在该控制装置的作用下控制所述取放装置作业,该取放装置在所述控制装置及定位控制器的控制下,取放待测试件来对其进行跌落测试。
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