[发明专利]制造电子器件冷却系统的方法无效
申请号: | 200610064127.5 | 申请日: | 2006-12-09 |
公开(公告)号: | CN1988764A | 公开(公告)日: | 2007-06-27 |
发明(设计)人: | K·M·杜罗彻;S·J·古德文;E·W·巴尔克;C·J·卡普斯塔 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
主分类号: | H05K3/00 | 分类号: | H05K3/00;H05K7/20;H01L21/00;H01L23/473 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 廖凌玲 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 提供了一种方法。该方法包括在基板(12)的内表面上形成传导层,和在传导层上方提供牺牲层(36)。该方法包括在牺牲层(36)中形成多个通道,和电镀牺牲层,以用包括传导材料的电镀材料基本上填充多个通道。该方法还包括蚀刻牺牲层(36)以形成具有翅片的传导结构,在该处保留传导材料,所述翅片由在蚀刻了牺牲层(36)的位置处的微通道隔开。 | ||
搜索关键词: | 制造 电子器件 冷却系统 方法 | ||
【主权项】:
1.一种方法,包括:在基板(12)的内表面上形成传导层;在传导层上方提供牺牲层(36);在牺牲层(36)中形成多个通道;电镀牺牲层(36),以用包括传导材料的电镀材料基本填充多个通道;和蚀刻牺牲层(36),以形成具有翅片的传导结构,在该处保留传导材料,所述翅片由在蚀刻所述牺牲层的位置处的微通道隔开。
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