[发明专利]硅表面清洁溶液以及用其制造半导体器件的方法有效
申请号: | 200610064332.1 | 申请日: | 2006-12-30 |
公开(公告)号: | CN101024882A | 公开(公告)日: | 2007-08-29 |
发明(设计)人: | 金相溶;洪昌基;沈雨宽 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | C23F1/24 | 分类号: | C23F1/24;H01L21/306 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 王新华 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 提供了一种用于硅表面的清洁溶液,所述清洁溶液含有缓冲溶液,该缓冲溶液包括醋酸(CH3COOH)和醋酸铵(CH3COONH4)、碘氧化剂、氢氟酸(HF)和水。在用于制造半导体器件的方法中,硅基片可具有被暴露的硅表面,可以使用含有缓冲溶液的清洁溶液来清洁该暴露的硅表面,该缓冲溶液包括醋酸、醋酸铵、碘氧化剂、氢氟酸和水。 | ||
搜索关键词: | 表面 清洁 溶液 以及 制造 半导体器件 方法 | ||
【主权项】:
1.一种硅表面清洁溶液,包括:缓冲溶液,所述缓冲溶液包括醋酸和醋酸铵、碘氧化剂、氢氟酸和水。
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