[发明专利]量测装置及量测方法无效
| 申请号： | 200610064624.5 | 申请日： | 2006-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN101210795A | 公开（公告）日： | 2008-07-02 |
| 发明（设计）人： | 李雷;成智;陈平;杨继文;董林森;孙长发 | 申请（专利权）人： | 深圳富泰宏精密工业有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/00 | 分类号： | G01B5/00;G01B5/28;G01B5/02;G01B21/00;G01B21/30;G01B21/02;G08C19/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明是关于一种量测装置，用以量测待测工件的表面平面度，该量测装置包括一量测设备及一数据处理设备，该量测设备包括一基座、一校零块、一导柱、一滑块及一千分表，该校零块包括一校零平面，该校零块放置在该基座上，该导柱垂直固定在基座上，该滑块一端可移动的设置于所述导柱上，其另一端固定所述千分表，该千分表用以量测待测工件表面若干量测点相较于校零平面的高度值，从而得到若干量测值；该数据处理设备与该量测设备相连，该数据处理设备用以分析由量测设备测得的量测值，判断所述待测工件表面平面度是否符合预定要求，并显示是否通过量测。该量测装置不仅体积较小，成本较低，结构简单，而且可直接显示量测值及量测结果。 | ||
| 搜索关键词： | 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种量测装置，用以量测待测工件的表面平面度，该量测装置包括一量测设备及一数据处理设备，其特征在于：该量测设备包括一基座、一校零块、一导柱、一滑块及一千分表，该校零块包括一校零平面，该校零块放置在该基座上，该导柱垂直固定在基座上，该滑块一端可移动的设置于所述导柱上，其另一端固定所述千分表，该千分表用以量测待测工件表面若干量测点相较于校零平面的高度值，从而得到若干量测值；该数据处理设备与该量测设备相连，该数据处理设备用以分析由量测设备测得的量测值，判断所述待测工件表面平面度是否符合预定要求。
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