[发明专利]I-Q正交调制发射机及其I-Q路间相位偏置的监测装置和方法有效
申请号: | 200610065454.2 | 申请日: | 2006-03-22 |
公开(公告)号: | CN101043269A | 公开(公告)日: | 2007-09-26 |
发明(设计)人: | 陶振宁;延斯·C·拉斯穆森 | 申请(专利权)人: | 富士通株式会社 |
主分类号: | H04B10/08 | 分类号: | H04B10/08;H04B10/155;H04L27/20 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 孙海龙 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | I-Q正交调制发射机及其I-Q路间相位偏置的监测装置和方法。所述I-Q正交调制发射机包括I路、具有相位偏置器的Q路、以及取样器,所述I-Q正交调制发射机用I-Q路间相位监测装置安装在所述取样器和所述相位偏置器之间,用于监测所述相位偏置器的相位偏差,其特征在于,包括:模平方器件,用于接收来自所述取样器的信号,并输出所述信号的模的平方;乘法器,用于对所述I路的数据、所述Q路的数据以及所述模平方器件的输出进行相乘;平均器,用于对所述乘法器的输出取平均。本发明还根据监测的结果对所述I-Q路间相位偏置进行控制。 | ||
搜索关键词: | 正交 调制 发射机 及其 相位 偏置 监测 装置 方法 | ||
【主权项】:
1、一种I-Q正交调制发射机用I-Q路间相位偏置监测装置,所述I-Q正交调制发射机包括I路、具有相位偏置器的Q路、以及取样器,所述装置安装在所述取样器和所述相位偏置器之间,用于监测所述相位偏置器的相位偏差,其特征在于,包括:模平方器件,用于接收来自所述取样器的信号,并输出所述信号的模的平方;乘法器,用于对所述I路的数据、所述Q路的数据以及所述模平方器件的输出进行相乘;平均器,用于对所述乘法器的输出取平均。
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