[发明专利]一种测量颗粒流体两相流系统非均匀结构参数分布的方法无效
| 申请号： | 200610065682.X | 申请日： | 2006-03-21 |
| 公开（公告）号： | CN101042310A | 公开（公告）日： | 2007-09-26 |
| 发明（设计）人： | 程长建;葛蔚;高士秋 | 申请（专利权）人： | 中国科学院过程工程研究所 |
| 主分类号： | G01M10/00 | 分类号： | G01M10/00 |
| 代理公司： | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 | 代理人： | 王凤华 |
| 地址： | 100080北*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种测量颗粒流体两相流系统非均匀结构参数分布的方法。该方法包括：1)确定输入条件；2)建立多尺度关联的动量和质量守恒方程；3)建立稀相和密相团聚物在加速和减速过程中与结构参数的关系；4)根据颗粒流体系统的稳定性条件将求解非均匀结构参数的问题转化为数学上的泛函问题；5)确定泛函的函数定义域，求解泛函问题，输出计算结果。本发明缩小了计算量和计算时间，提高了计算速度，为工业装置规模的颗粒流体反应器的实时操作和控制提供快速准确的参数分布。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 颗粒 流体 两相 系统 均匀 结构 参数 分布 方法 | ||
【主权项】：
1、一种测量颗粒流体两相流系统非均匀结构参数分布的方法，步骤包括：1)确定输入条件，包括物性参数：固相颗粒直径dp、颗粒密度ρp、气相密度ρf、气相粘度μf，设备参数：设备的高度Ht和直径Dt等，操作条件：表观流体速度Ug和颗粒流动速率Up；2)建立多尺度关联的动量和质量守恒方程；3)建立稀相和密相团聚物在加速和减速过程中与结构参数的关系；4)根据颗粒流体系统的稳定性条件将求解非均匀结构参数的问题转化为泛函问题；5)确定泛函的函数定义域，求解泛函问题，输出计算结果。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院过程工程研究所，未经中国科学院过程工程研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200610065682.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
