[发明专利]双谱分析仪测量系统无效
| 申请号： | 200610066669.6 | 申请日： | 2006-04-19 |
| 公开（公告）号： | CN1869716A | 公开（公告）日： | 2006-11-29 |
| 发明（设计）人： | 温·J·马尔 | 申请（专利权）人： | 安捷伦科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R23/16 | 分类号： | G01R23/16 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 柳春雷 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明公开了一种双谱分析仪测量系统，其减小了噪声对获取的测量值的影响，使得可以确定接收到的输入信号功率以及双谱分析仪测量系统中每个谱分析仪的噪声。 | ||
| 搜索关键词： | 谱分析 测量 系统 | ||
【主权项】：
1.一种系统，包括：第一谱分析仪；第二谱分析仪，所述第二谱分析仪与所述第一谱分析仪是频率匹配的；以及控制器，所述控制器接收所述第一谱分析仪响应于接收到的输入信号而提供的第一测量信号，并接收所述第二谱分析仪响应于所述接收到的输入信号而提供的第二测量信号，所述控制器对所述第一测量信号和所述第二测量信号的多个获取值的互相关取平均以近似得到所述输入信号的平均功率。
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