[发明专利]熔丝检查电路及其检查方法无效
| 申请号： | 200610066837.1 | 申请日： | 2006-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN101047036A | 公开（公告）日： | 2007-10-03 |
| 发明（设计）人： | 黄一洲;吴晓龙 | 申请（专利权）人： | 富晶半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C17/18 | 分类号： | G11C17/18 |
| 代理公司： | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 余朦;方挺 |
| 地址： | 中国*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种熔丝检查电路及其检查方法，该电路包括：由系统电压源所驱动的第一检查电路，检查熔丝的第一端的电压值，以输出第一参考电压；由系统电压源所驱动的第二检查电路，检查熔丝的第二端的电压值，以输出第二参考电压；模拟比较器，根据第一参考电压与第二参考电压的差值，判断熔丝是否已被烧断。在熔丝的烧录过程中，第一参考电压与第二参考电压的差值较小，以延长模拟比较器的反应时间，在熔丝的读取过程中，第一参考电压与第二参考电压的差值较大，以缩短模拟比较器的反应时间。 | ||
| 搜索关键词： | 检查 电路 及其 方法 | ||
【主权项】：
1.一种熔丝检查电路，包括：系统电压源；第一检查电路，由所述系统电压源所驱动，检查熔丝的第一端的电压值，以输出第一参考电压；第二检查电路，由所述系统电压源所驱动，检查熔丝的第二端的电压值，以输出第二参考电压；以及模拟比较器，根据第一参考电压与第二参考电压的差值，判断熔丝是否已被烧断，其中，在熔丝的烧录过程中，第一参考电压与第二参考电压的差值小，以延长模拟比较器的反应时间，在熔丝的读取过程中，第一参考电压与第二参考电压的差值大，以缩短模拟比较器的反应时间。
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