[发明专利]一种PCB测试用微调系统及方法有效
| 申请号： | 200610066858.3 | 申请日： | 2006-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN101046495A | 公开（公告）日： | 2007-10-03 |
| 发明（设计）人： | 张利雄 | 申请（专利权）人： | 张利雄 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/02;G01R31/28;H01L21/66 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 | 代理人： | 周建秋 |
| 地址： | 518000广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种PCB测试用微调系统，其包括有电性连接的测试夹具、测试机、微调控制装置及微调执行装置，测试夹具带有微调结构，其测试探针在测试时定位于待测PCB所选取的测试点上；测试机检测待测PCB的测试点上的电路导通状态，将其作为偏移判断参数传送至微调控制装置；微调控制装置接收并依据偏移判断参数判断是否对待测PCB进行微调，进而控制微调执行装置及测试机的动作；微调执行装置根据微调控制装置的微调方向指令对待测PCB进行微调。本发明还涉及使用上述PCB测试用微调系统的PCB测试用微调方法。本发明有利于提高PCB测试的正确率，且其系统的结构简单、成本低廉。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 pcb 测试 微调 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种PCB测试用微调系统，其特征在于，所述PCB微调系统包括有测试夹具、测试机、微调控制装置及微调执行装置，其中，所述测试夹具带有微调结构，其测试探针在测试时定位于待测PCB所选定的测试点上，以供所述测试机检测所述测试点上的电路导通状态；所述测试机与所述测试夹具连接，检测所述待测PCB的测试点上的电路导通状态，将其作为偏移判断参数传送至所述微调控制装置；所述微调控制装置与所述测试机连接，接收并依据所述偏移判断参数判断是否对所述待测PCB进行微调，控制所述微调执行装置及所述测试机的动作；所述微调执行装置与所述微调控制装置连接，其根据所述微调控制装置的微调方向指令对所述待测PCB进行微调。
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